Sequential Analysis / Tests and Confidence Intervals. David Siegmund
Tipo de material:
TextoIdioma: eng. Lenguaje original: eng. Detalles de publicación: USA: New York. Springer-Verlag New York, Inc. 1985Edición: First EditionDescripción: xi, 272 p. ; 24 cmISBN: - 0387961348
- 3540961348
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Instituto de Investigación Estadística | Biblioteca Central FACE | Disponible | INIE01090 |
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